凱思隆科技股份有限公司(KeithLink Technology Co., Ltd.)創立於2002年11月，一直專注於提供半導體、電子相關產業等，晶圓級電性量測之軟硬體整合解決方案。

我們提供一系列應用於晶圓(晶片)量測、LCD面板(LCD Panel)量測、四點探針薄膜(Sheet Resistivity)量測、霍爾效應 (Hall Effect)量測、太陽能晶片(Solar Cell)量測、軟性電路板(FPC)量測、生物晶片(Biochip)量測、奈米元件(Nano device)量測...等一應俱全之探針台(Probe Station/Manual Prober)。